粒徑分布分析儀是一種用于測量顆粒物質粒徑分布的重要工具，主要類型介紹：
根據測量原理的不同，粒徑分布分析儀可以分為多種類型，包括但不限于：
激光粒度分析儀：利用激光散射原理，通過測量顆粒物質對激光的散射角度和散射光強度，計算出顆粒的粒徑分布。
沉降式粒度分析儀：基于顆粒在液體中的沉降速度來測量粒徑分布。
電阻法粒徑分析儀：通過測量顆粒通過小孔時產生的電阻變化來推算粒徑。
聲波粒徑分析儀：利用聲波在顆粒物質中的傳播特性來測量粒徑。
除了上面提到的激光粒度分析儀、沉降式粒度分析儀、電阻法粒徑分析儀和聲波粒徑分析儀，粒徑分布分析儀還包括以下幾種類型：
動態(tài)光散射儀（DLS）：
原理：基于顆粒在液體中做布朗運動時對光的散射現象來測量粒徑。散射光強度的波動與顆粒的布朗運動相關，通過分析這些波動可以推算出顆粒的粒徑分布。
特點：適用于納米級顆粒的測量，測量速度快，對樣品的要求較低。
微分電遷移率式粒徑分布測定儀（DMPS）：
原理：結合靜電分級和氣溶膠濃度測量技術，通過測量不同粒徑顆粒在電場中的遷移率來推算粒徑分布。
特點：能夠全自動地測定0.01~1μm范圍的氣溶膠粒徑分布，分辨率高，適用于氣溶膠顆粒的測量。
光散射式粒子計數器：
原理：利用光照射顆粒時產生的散射光來測量顆粒的濃度和粒徑。散射光的強度與顆粒的大小相關，通過測量散射光的強度分布可以推算出顆粒的粒徑分布。
特點：適用于懸浮粉塵、氣溶膠等顆粒物質的測量，測量速度快，操作簡便。
全息照相法粒徑分析儀：
原理：通過記錄顆粒的全息圖像，并利用數字圖像處理技術來重建顆粒的三維形態(tài)，從而測量其粒徑。
特點：能夠提供顆粒的三維形態(tài)信息，適用于對顆粒形貌有較高要求的測量場景。
其他特殊類型：
如基于超聲波、X射線、中子散射等原理的粒徑分析儀，這些儀器通常用于特定領域或特殊樣品的測量。
